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发明名称 TESTING METHOD FOR A SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR0142566(B1) 申请公布日期 1998.08.17
申请号 KR19900002423 申请日期 1990.02.26
申请人 HITACHI LTD 发明人 YANAGISAWA, KAZUMASA;OTA, TATSUYUKI;UDAKAWA, TETSU;ISHII, KYOKO;MIWA, HITOSHI;NOZOE, ATSUSHI;NOZOE, ATSUSHI;NAKAMURA, MASAYUKI;MATSUMOTO, TETSURO;KINOSHITA, YOSHITAKA;OUJI, YOSHIAKI;TSUKADA, HIROMI;WADA, SHOJI;MISASHI, WAZUO;KOBAYASHI, YUTAKA;KATSUKAWA, KORO
分类号 G11C11/409;G05F3/24;G11C11/401;G11C11/403;G11C11/407;G11C11/408;G11C29/00;G11C29/28;G11C29/34;G11C29/46;G11C29/50;H01L21/82;H01L21/822;H01L21/8242;H01L21/8249;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/10;H01L27/108;(IPC1-7):G11C11/34 主分类号 G11C11/409
代理机构 代理人
主权项
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