| 发明名称 |
TEST CONTROL CIRCUIT AND METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR0144711(B1) |
申请公布日期 |
1998.08.17 |
| 申请号 |
KR19940033913 |
申请日期 |
1994.12.13 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD |
发明人 |
YU, JE-HWAN |
| 分类号 |
G11C11/401;G01R31/317;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/34;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
