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发明名称 TESTER FOR CHIP COMPONENT'S QUANTITY
摘要
申请公布号 KR0118914(Y1) 申请公布日期 1998.08.17
申请号 KR19950006139U 申请日期 1995.03.30
申请人 DAEWOO ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 LEE, SUNG-JAE
分类号 H05K13/08;(IPC1-7):H05K13/08 主分类号 H05K13/08
代理机构 代理人
主权项
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