METAL TRAY UNIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE,申请号KR19950007446U-传众专利搜索

发明名称	METAL TRAY UNIT FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号	KR0122284(Y1)	申请公布日期	1998.08.17
申请号	KR19950007446U	申请日期	1995.04.13
申请人	MIRAE IND. CO.,LTD	发明人	KIM, DOO-CHOL
分类号	G01R31/26;B65D85/86;G01R31/01;H01L21/673;(IPC1-7):H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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