发明名称 自动自我测试系统
摘要 包含多个感测器处理通道或路径的自动自我测试系统;每个通道或路径有一颗感测器以直接或间接提供一个数值给比较器;此比较器将测得的值与预定值作比较,此预定值依序提供给一致逻辑电路,此一致逻辑电路评估此比较器与其它路径之比较器的输出以提供通过/失败状况的输出指示。每个感测器处理路径上包含两个次路径;此两个次路径可以连结或切换到此处理路径而解连结的次路径则接受测试处理器执行离线测试。藉着提供一个数位值给测试下的次路径以实行测试,感测期输出以决定测试下的次路径功能是否正常。对系统的组合逻辑状态作监视且将其转换成一个十进位数值,将此十进位数值与对应于此系统的有限已知良好的逻辑状态所成的集合作比较。一个不属于此集合的十进位数值因此就指示了一个失败的状况。
申请公布号 TW338166 申请公布日期 1998.08.11
申请号 TW086108215 申请日期 1997.06.13
申请人 燃烧工程公司 发明人 史帝文J.威克兹;雷蒙德R.塞尼奇尔
分类号 G21C7/00;G21C17/00 主分类号 G21C7/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.自动自我测试系统,包含感测一待感测的参数的 装置且 该装置提供一表示待感测的参数的输出;第一和第 二个处 理路径,可以选择性地连到先前提到用以处理输的 装置的 输出;程式控制的装置,用以选择性地连接该第一 和第二 个处理路径其中之一到该先前提到用以处理输出 的装置的 输出上,且用以加一测试信号到该第一和第二个处 理路径 中的另一个,且感测此输出以测试功能,且接着连 接该第 一和第二个处理路径的另一个到该先前提到用以 处理输出 的装置的输出上,且用以加一测试信号到该第一和 第二个 处理路径中该首先提及者以测试功能。2.根据申 请专利范围第1项之自动自我测试系统,其中该 首先提到的装置包含:用作测量参数的感测器;连 接该感 测器输出的类比到数位转换器,以提供被测量的参 数的数 位输出。3.根据申请专利范围第1项之自动自我测 试系统,其中该 程式控制的装置以反覆的方式测试该第一和第二 个处理路 径。4.根据申请专利范围第1项之自动自我测试系 统,其中该 程式控制的装置指定给该处理路径中选到的节点 们独特的 二进位置値,该节点们有二进的壹或零値,程式控 制的装 置将这些节点相等的十进値加起来以得到与该节 点们的逻 辑状态对应的十进値。5.根据申请专利范围第4项 之自动自我测试系统,其中该 程式控制的装置将此十进値与已知良好的状态的 十进値所 成的集合作比较,以决定此十进値是否为已知良好 的状态 。6.自动自我测试系统,包含感测一待感测的参数 的装置, 且该装置提供一表示待感测的参数的数位输出;第 一和第 二个处理路径,可以选择性地连到先前提到用以处 理输出 的方法的输出;程式控制的装置,用以选择性地连 接该第 一和第二个处理路径其中之一到该首先提到用以 处理输出 的装置的数位输出上,且用以加一数位测试信号到 该第一 和第二个处理路径中的另一个,且感测此数位输出 以测试 功能,且按着连接该第一和第二个处理路径的另一 个到该 首先提到用以处理输出的装置的输出上,且用以加 一数位 测试信号到该第一和第二个处理路径中该首先提 及者以测 试功能。7.根据申请专利范围第6项之自动自我测 试系统,其中该 首先提到的装置包含:用作测量参数的感测器;连 接该感 测器输出的类比到数位转换器,以提供被测量的参 数的数 位输出。8.根据申请专利范围第6项之自动自我测 试系统,其中该 程式控制的装置以反覆的方式测试该第一和第二 个处理路 径。9.根据申请专利范围第6项之自动自我测试系 统,其中该 程式控制的装置指定给该处理路径中选到的节点 们独特的 二进位置値,该节点们有二进的壹或零値,程式控 制的装 置将这些节点相等的十进値加起来以得到与该节 点们的逻 辑状态对应的十进値。10.根据申请专利范围第9项 之自动自我测试系统,其中该 程式控制的装置将此十进値与已知良好的状态的 十进値所 成的集合作比较,以决定此十进値是否为已知良好 的状态 。11.自动自我测试系统,包含用作测量参数的感测 器,且 提供由此而来的输出;连接该感测器输出的类比到 数位转 换器,以提供被测量的参数的数位输出;第一和第 二个处 理路径,可以选择性地连接到该类比到数位转换器 的数位 输也以处理由此而来的数位输出,每个该第一和第 二个处 理路径有一比较器在此将该数位转换器的数位输 出与预定 的数位値作比较;程式控制的装置,用以选择性地 连接该 第一和第二个处理路径其中之一到该类比到数位 转换器的 数位输出上,且用以加一数位测试信号到该第一和 第二个 处理路径中的另一个,且感测此输出以测试功能, 且接着 连接该第一和第二个处理路径的另一个到该类比 到数位转 换器的输出上,且用以加一数位测试信号到该第一 和第二 个处理路径中该首先提及者以测试功能。12.根据 申请专利范围第11项之自动自我测试系统,其中 该程式控制的装置以反覆的方式测试该第一和第 二个处理 路径的功能。13.自动自我测试系统,包含:N个参数 感测通道以测量参 数,每个该N个参数感测通道有一感测待测参数且 提供数 位输出的装置,每个该N个参数感测通道有M个次路 径,每 个次路径可选择选择性地连到该感测装置的输出, 以处理 由此而来的数位输出;程式控制的装置,用以循序 连接该 M个次路径到该感测装置的输出以处理此数位输出 ,且用 以加一测试信号到该M个次路径之且感测此输出以 测试功 能,且接着连接该M个次路径中另一个次路径到该 感测装 置的输出,且用以加一数位测试信号到该M个次路 径中首 先提到的次路径以测试功能,该程式控制的装置以 反覆的 方式测试该N个处理通道的M个次路径中的每个次 路径的功 能。14.辨识一逻辑网路的逻辑状态的方法,此逻辑 网路有多 个有二进位壹或零的状态的节点,此逻辑网路的可 能的独 特逻辑状态是由对应的二进位的节点値所定义,此 方法包 含以下步骤:对每个节点定义一独特的二进位置値 ;将对 应到每个节点的十进値加起来;将加起来的十进値 与定义 此逻辑网路的多个可能的独特逻辑状态的十进値 所成的集 合作比较,当加起来的十进値不在定义此逻辑网路 的多个 独特逻辑状态的十进値所成的集合之中时,辨识出 此不一 致的逻辑状态。15.一决定逻辑网路的逻辑状态的 方法,此逻辑网路有多 个有二进位壹或零的状态的节点,此逻辑网路的可 能的独 特逻辑状态是由对应的二进位的节点値所定义,此 方法包 含以下步骤:对每个节点定义一独特进位置値;将 有二进 位壹的每个节点的二进位置値的对应的非十进位 的位置値 加起来;将加起来的逻辑状态的非十进値与定义此 逻辑网 路的多个独特逻辑状态的非十进値所成的集合作 比较,当 加起来的非十进値不在定义此逻辑网路的多个独 特逻辑状 态的非十进値所成的集合之中时,辨识出此不一致 的逻辑 状态。图式简单说明:第一图是用来测量特定参数 的多重 信号处理路径的方块图。第二图是与本发明一致 的第一图 的单一处理路径的方块图。第三图是一简化的流 程图,指 出第二图中的方块图的测试程序;且第四图是代表 第二图 中的系统中的不同逻辑状态的一个表。
地址 美国