| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR TESTING HIGH-FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT USING TESTER WITH LOWER FREQUENCY TESTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10206506(A) |
申请公布日期 |
1998.08.07 |
| 申请号 |
JP19970350448 |
申请日期 |
1997.12.19 |
| 申请人 |
SGS THOMSON MICROELECTRON INC |
发明人 |
DAVID C MCCLURE |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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