发明名称 | 纺织原料试验材料中杂质的检测方法和检测设备 | ||
摘要 | 用光照射线试验材料(F),测定从试验材料反射回来的光,从反射光的变化判断有关杂质存在。检测颜色比试验材料(F)深的杂质时,将试验材料的影像投射到在亮的背景前面的传感器(3)上。检测浅色的杂质时,将试验材料的影像投射到在暗的背景前面的传感器(3)上。$将本发明与电子纱线清理器配合使用以达到检测纱线中杂质纤维的目的。 | ||
申请公布号 | CN1039454C | 申请公布日期 | 1998.08.05 |
申请号 | CN94109145.7 | 申请日期 | 1994.09.08 |
申请人 | 泽韦格路瓦有限公司 | 发明人 | K·埃普里 |
分类号 | G01N21/89;G01N21/47 | 主分类号 | G01N21/89 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 叶恺东;萧掬昌 |
主权项 | 1.一种用以检测纺织试验材料中杂质的检测方法,其特征在于包括以下步骤:在亮的背景和暗的背景之前面投射试验材料的传感器图象,以分别检测比试验材料暗的杂质和比试验材料亮的杂质;将传感器产生的信号与一极限值进行比较,该极限值适宜于针对暗的背景而检测较亮的杂质的存在,以及与另一极限值进行比较,该另一极限值适宜于针对亮的背景以检测较暗杂质的存在,从而当信号超过所述一极限值时或低于所述另一个极限值时确定杂质的存在。 | ||
地址 | 瑞士乌斯特 |