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发明名称 TEST PATTERN CHIP
摘要
申请公布号 KR0120388(Y1) 申请公布日期 1998.08.01
申请号 KR19940010962U 申请日期 1994.05.17
申请人 LG SEMICONDUCTOR CO.,LTD 发明人 SUNG, SUK-HYUN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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