| 发明名称 |
SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10197455(A) |
申请公布日期 |
1998.07.31 |
| 申请号 |
JP19970013307 |
申请日期 |
1997.01.09 |
| 申请人 |
RICOH CO LTD |
发明人 |
NAKAYAMA OSAMU;KAMATA TERUMI;KOBAYASHI SHINJI |
| 分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/89;G01N21/93;(IPC1-7):G01N21/89 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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