SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE,申请号JP19970001449-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号	JPH10197595(A)	申请公布日期	1998.07.31
申请号	JP19970001449	申请日期	1997.01.08
申请人	ADVANTEST CORP	发明人	SAITO TAKASHI
分类号	G01R31/26;G01R1/28;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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