发明名称 INTEGRATED CIRCUIT MEMORY DEVICE HAVING BUILT-IN SELF-TESTING CIRCUIT WITH MONITOR MODE AND TESTER MODE AND ITS OPERATION METHOD
摘要
申请公布号 JPH10199294(A) 申请公布日期 1998.07.31
申请号 JP19970351611 申请日期 1997.12.19
申请人 TEXAS INSTR INC <TI> 发明人 CLINE DANNY R;POWELL THEO J;HII KUONG H
分类号 G01R31/28;G11C29/12;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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