发明名称 제습기가 구비된 발광 분석장치
摘要 <p>본 고안은 제습기가 구비된 발광 분석장치에 관한 것으로서, 시험재료가 삽입된 셋팅부가 놓여지는 다이(30)와, 상기 다이(30)에 놓인 시험재료를 분석하는 헤드(20)로 이루어진 발광 분석장치(10)에 있어서, 상기 발광 분석장치(10)에 구비된 헤드(20)의 일측에 덕트(40)로 연결되어 형성된 제습기(50)와, 상기 제습기(50)의 일측에 형성된 스위치(60)를 구성함으로써 발광 분석장치로 재료의 성분을 분석할 시에 보다 정확하고, 정밀하게 분석할 수 있도록 하는 유용한 것이다.</p>
申请公布号 KR19980024252(U) 申请公布日期 1998.07.25
申请号 KR19960037641U 申请日期 1996.10.31
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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