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经营范围
发明名称
Verfahren zur lokalen Oxidation von Silicium unter Verwendung einer Ionen- und Diffusions-Sperrschicht
摘要
申请公布号
DE4307580(C2)
申请公布日期
1998.07.23
申请号
DE19934307580
申请日期
1993.03.10
申请人
MICRON TECHNOLOGY, INC., BOISE, ID., US
发明人
DOAN, TRUNG TRI, BOISE, ID., US;SANDHU, GURTEJ SINGH, BOISE, ID., US
分类号
H01L21/316;H01L21/32;H01L21/76;H01L21/762;(IPC1-7):H01L21/762
主分类号
H01L21/316
代理机构
代理人
主权项
地址
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