发明名称 Verfahren zur lokalen Oxidation von Silicium unter Verwendung einer Ionen- und Diffusions-Sperrschicht
摘要
申请公布号 DE4307580(C2) 申请公布日期 1998.07.23
申请号 DE19934307580 申请日期 1993.03.10
申请人 MICRON TECHNOLOGY, INC., BOISE, ID., US 发明人 DOAN, TRUNG TRI, BOISE, ID., US;SANDHU, GURTEJ SINGH, BOISE, ID., US
分类号 H01L21/316;H01L21/32;H01L21/76;H01L21/762;(IPC1-7):H01L21/762 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人
主权项
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