| 发明名称 |
Secondary ion mass spectrometric analysis of metals and method of preparing standard sample therefor |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0601689(B1) |
申请公布日期 |
1998.07.22 |
| 申请号 |
EP19930306400 |
申请日期 |
1993.08.13 |
| 申请人 |
DIRECTOR-GENERAL OF THE AGENCY OF INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY |
发明人 |
OISHI, SHOJI |
| 分类号 |
G01N1/28;G01N1/00;G01N1/36;G01N1/44;G01N23/22;G01N27/62;H01J49/26;(IPC1-7):G01N1/28 |
主分类号 |
G01N1/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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