| 发明名称 |
THE STRUCTURE OF PIN CARD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST EQUPIMENT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR0140439(B1) |
申请公布日期 |
1998.07.15 |
| 申请号 |
KR19950022048 |
申请日期 |
1995.07.25 |
| 申请人 |
LG SEMICONDUCTOR CO..,LTD |
发明人 |
KIM, CHAE-SUB |
| 分类号 |
G01R1/06;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
