动态型半导体存储器及其测试方法

摘要

本动态型半导体存储器及其测试方法能缩短测试时间。在通常方式中,将升压电压Vpp供给所选择的字线WL1。在测试方式中,将比Vpp电平低的电源电压Vcc供给所选择的字线WL1。因此,在测试方式中,写入存储单元25的高电平数据比在通常方式中写入存储单元25的高电平数据的电位低。因此,能缩短产生H→L错误的时间,能缩短测试时间。

主权项

1.一种动态型半导体存储器，其特征在于备有：多个存储单元和写入电压控制装置，上述多个存储单元排列成行及列的矩阵状，各存储单元分别保存高电平数据或低电平数据，上述写入电压控制装置在将上述高电平数据写入上述存储单元时、在通常方式下写入第1电平电压，在测试方式下写入比上述第1电平电压低的第2电平电压。