发明名称 IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH10185993(A) 申请公布日期 1998.07.14
申请号 JP19960348365 申请日期 1996.12.26
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 FURUTA KATSUNOBU;GOTO TOSHIO
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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