发明名称 中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料
摘要 一种中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,以BaO·4TiO<SUB>2</SUB>主晶相、3~5%硼硅铅玻璃及0.1%ZrO<SUB>2</SUB>的改性剂(MnCO<SUB>3</SUB>、SnO<SUB>2</SUB>、ZrO<SUB>2</SUB>)的一种或几种。其介电常数可达35左右,介质损耗≤4×10<SUP>-4</SUP>;绝缘电阻率ρν=10<SUP>14</SUP>Ω·cm;电容量温度变化率≤0+30ppm/℃,适用于中温烧结(1140)片式多层陶瓷电容器的生产。
申请公布号 CN1187015A 申请公布日期 1998.07.08
申请号 CN96118943.6 申请日期 1996.12.23
申请人 广东肇庆风华电子工程开发有限公司 发明人 梁力平;陈锦清;祝忠勇;欧明;杨仕基;莫天桥;庞溥生;李富胜;吴小飞;赖永雄;宋子峰
分类号 H01G4/12 主分类号 H01G4/12
代理机构 广州市专利事务所 代理人 罗毅萍
主权项 1、一种中温烧结低介高频片式多层瓷介电容器瓷料,其特征在于其配方组成(重量比)为,四钛钡主晶相(BaO·4TiO2) 95~97%硼硅铅玻璃 3~5%其中硼硅铅玻璃组成为:B2O3 20~30% SiO2 5~10% PbO 40~75%0.1~0.5T的碳酸锰(MnCO3)、二氧化锡(SnO2)、二氧化锆(ZrO2)的一种或几种
地址 526020广东省肇庆市西江北路风华电子工业城