首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 INPUT/OUTPUT BUFFER TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH10170604(A) 申请公布日期 1998.06.26
申请号 JP19960325014 申请日期 1996.12.05
申请人 NEC ENG LTD 发明人 OKUYAMA NAOKI
分类号 G01R31/28;H03K19/0175;(IPC1-7):G01R31/28;H03K19/017 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com