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发明名称 X-RAY EXAMINATION APPARATUS WITH A SEMICONDUCTOR X-RAY DETECTOR
摘要
申请公布号 EP0848885(A2) 申请公布日期 1998.06.24
申请号 EP19970926194 申请日期 1997.07.01
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 RUTTEN, WALTER;SCHIEBEL, ULRICH;WIECZOREK, HERFRIED, KARL;CONRADS, NORBERT
分类号 G01N23/04;A61B6/00;G01T1/20;G01T1/24;H01J31/50;H04N3/32;H04N5/32;H04N5/325;H05G1/64;(IPC1-7):H04N5/32 主分类号 G01N23/04
代理机构 代理人
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