发明名称 选择性化学气相沉积形成铝接触栓的方法
摘要 一种改进的化学气相沉积(CVD)工艺,用以选择性地形成铝接触栓(aluminum plug)构造,其先对一形成有半导体器件及绝缘层的基底进行一真空热退火处理(thermalannealing treatment),然后利用二甲基乙基胺铝烷(Dimethylethylamine alane,DMEAA)作为母体(precursor),以化学气相沉积形成一铝层,其可选择性地只沉积在接触开口内半导体器件的导电区上,而不沉积在绝缘层表面上,制得一铝接触栓。
申请公布号 CN1185026A 申请公布日期 1998.06.17
申请号 CN96121897.5 申请日期 1996.12.10
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 孙喜;蔡明兴;裘性天
分类号 H01L21/283 主分类号 H01L21/283
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 杨梧
主权项 1、一种选择性化学气相沉积形成铝接触栓的方法,包括下列步骤:在一基底上形成一半导体器件,并且形成一绝缘层覆盖在其表面上,该绝缘层具有一接触开口,以露出该半导体器件的导电区;在真空环境中对该基底进行一热退火处理;以及利用二甲基乙基胺铝烷配位化合物作为母体,在不高于250℃的基底温度下,以化学气相沉积法形成一铝层,其选择性地沉积在该接触开口内的该导电区上,而不沉积在该绝缘层表面上,用以制作一铝接触栓。
地址 台湾省新竹科学工业园区