发明名称 | 选择性化学气相沉积形成铝接触栓的方法 | ||
摘要 | 一种改进的化学气相沉积(CVD)工艺,用以选择性地形成铝接触栓(aluminum plug)构造,其先对一形成有半导体器件及绝缘层的基底进行一真空热退火处理(thermalannealing treatment),然后利用二甲基乙基胺铝烷(Dimethylethylamine alane,DMEAA)作为母体(precursor),以化学气相沉积形成一铝层,其可选择性地只沉积在接触开口内半导体器件的导电区上,而不沉积在绝缘层表面上,制得一铝接触栓。 | ||
申请公布号 | CN1185026A | 申请公布日期 | 1998.06.17 |
申请号 | CN96121897.5 | 申请日期 | 1996.12.10 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 孙喜;蔡明兴;裘性天 |
分类号 | H01L21/283 | 主分类号 | H01L21/283 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 杨梧 |
主权项 | 1、一种选择性化学气相沉积形成铝接触栓的方法,包括下列步骤:在一基底上形成一半导体器件,并且形成一绝缘层覆盖在其表面上,该绝缘层具有一接触开口,以露出该半导体器件的导电区;在真空环境中对该基底进行一热退火处理;以及利用二甲基乙基胺铝烷配位化合物作为母体,在不高于250℃的基底温度下,以化学气相沉积法形成一铝层,其选择性地沉积在该接触开口内的该导电区上,而不沉积在该绝缘层表面上,用以制作一铝接触栓。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区 |