| 发明名称 |
METHOD FOR SCREENING THERMISTOR ELEMENT WITH NEGATIVE CHARACTERISTICS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10153627(A) |
申请公布日期 |
1998.06.09 |
| 申请号 |
JP19960311651 |
申请日期 |
1996.11.22 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
TERASAKI MASANORI;KAWAMURA NORIHIRO;OUCHI MINORU |
| 分类号 |
G01R31/00;H01C7/04;(IPC1-7):G01R31/00 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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