| 发明名称 |
Circuit arrangement for testing integrated circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IE80388(B1) |
申请公布日期 |
1998.06.03 |
| 申请号 |
IE19920000706 |
申请日期 |
1992.03.05 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
JOSEF HOELZLE |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;H03K17/62;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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