发明名称 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPH10149792(A) 申请公布日期 1998.06.02
申请号 JP19960307908 申请日期 1996.11.19
申请人 JEOL LTD 发明人 YOSHIHARA TAKAYASU
分类号 H01J37/153;H01J37/21;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/21 主分类号 H01J37/153
代理机构 代理人
主权项
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