首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 WAVELENGTH INSPECTING METHOD BY SPECTROFLUOROMETRIC PHOTOMETER AND CELL THEREFOR
摘要
申请公布号 JPH10148615(A) 申请公布日期 1998.06.02
申请号 JP19960324724 申请日期 1996.11.19
申请人 JASCO CORP 发明人 ENDO SHIRO;SEKI NOZOMI
分类号 G01J3/06;G01J3/443;G01N21/03;G01N21/27;G01N21/64;(IPC1-7):G01N21/64 主分类号 G01J3/06
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com