发明名称 INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING LAMELLAR FINE STRUCTURE BY USING LOW INTERFERENCE OPTICAL INTERFEROMETRY
摘要 <p>L'extrémité d'une sonde (5), par l'intermédiaire de laquelle on applique une lumière de cohérence basse à un échantillon S, est composée d'une fibre optique (3) exempte de revêtement 3Y mais possédant un revêtement de forme 3X afin d'améliorer le degré de contact entre la sonde (5) et l'échantillon S. Une table d'échantillon (41), qu'on peut déplacer sur un axe z, est accouplée à un instrument de mesure (1) et la sonde (5) est reliée à un bras (42) qu'on peut déplacer dans des sens suivant un axe x, un axe y et un axe z. Il est préférable de fixer un dispositif de saisie d'image (20) qui saisit une image magnifiée de la pièce à mesurer, ledit dispositif étant solidaire de la sonde (5). On peut obtenir des données d'observation extrêmement précises de mesure OCM au moyen de l'instrument de mesure (1), même à partir d'un échantillon, tel qu'une peau, présentant une surface irrégulière. On peut effectuer, de plus, le suivi de la modification d'une structure lamellaire fine de l'échantillon au moyen d'une analyse tridimensionnelle et temporelle.</p>
申请公布号 WO1998022776(P1) 申请公布日期 1998.05.28
申请号 JP1997004124 申请日期 1997.11.12
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址