Method and apparatus for analyzing the characteristics of an optical circuit,申请号EP19940114090-传众专利搜索

发明名称	Method and apparatus for analyzing the characteristics of an optical circuit
摘要
申请公布号	EP0702437(B1)	申请公布日期	1998.05.27
申请号	EP19940114090	申请日期	1994.09.08
申请人	HEWLETT-PACKARD GMBH	发明人	PATZ, DIETMAR;MUELLER, EMMERICH;HENTSCHEL, CHRISTIAN
分类号	G02B6/00;G01M11/00;H01S3/06;H01S3/07;(IPC1-7):H01S3/06	主分类号	G02B6/00
代理机构		代理人
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