发明名称 | 用可编程非易失半导体储器加戴的微机和数据读出测法 | ||
摘要 | 在正常模式下引入用PROM装载的微机数据读出测试方法,设置微机的操作模式为缺少ROM模式。在缺少ROM模式下设置扩展功能,扩展地址到外部扩展的区域。设置微机为正常操作模式,在此基础上CPU取出事先提供给外部扩展区域的可应用的地址的诸指令,以从PROM中读取数据。计算读出数据和结束读出测试。 | ||
申请公布号 | CN1182912A | 申请公布日期 | 1998.05.27 |
申请号 | CN97122742.X | 申请日期 | 1997.10.15 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 寺内洋二 |
分类号 | G06F11/22 | 主分类号 | G06F11/22 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 陈景峻;张志醒 |
主权项 | 1、具有CPU,PROM,和转换正常操作模式为缺少ROM模式和相反的转换模式和外部扩展功能的操作模式控制电路的微机具有:从外部扩展区域取出诸指令的取出装置;和依照上述取出装置取出的诸指令从PROM中读出数据的读取装置。 | ||
地址 | 日本东京都 |