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发明名称 METHOD FOR ACCELERATED DEGRADATION TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号 EP0664889(B1) 申请公布日期 1998.05.27
申请号 EP19930922410 申请日期 1993.09.27
申请人 CREE RESEARCH, INC. 发明人 EDMOND, JOHN, A.;ASBURY, DOUGLAS, A.;CARTER, CALVIN, H., JR.;WALTZ, DOUGLAS, G.
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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