发明名称 품질 측정 시스템의 경통장치
摘要 <p>본 고안은 물체의 측정점으로부터 입사되는 광을 필터링하는 보호경과; 상기 보호경을 통해 입사되는 광을 평행광으로 만드는 제1렌즈와; 상기 제1렌즈에서 출사되는 평행광을 상기 광 센서와 연결된 광 파이버 내부로 집속시키는 제2렌즈와; 가시광을 발생시키는 가시광 발생수단과; 상기 가시광 발생수단에서 발생된 가시광을 평행광으로 만드는 제3렌즈와; 상기 제1렌즈에서 출사되는 평행광을 상기 제2렌즈 측으로 전반사시키고, 상기 가시광이 상기 제1렌즈와 보호경을 거쳐 상기 측정점 측으로 출사되도록 상기 제3렌즈를 통해 입사되는 평행광을 통과시키는 미러로 구성된 품질 측정 시스템의 경통장치에 관한 것으로서, 물체의 측정점 측으로 가시광을 출사시켜 상기 물체의 측정점과의 광축 일치를 용이하게 하기 때문에 상기 물체의 품질 측정 정밀도 및 신뢰도를 높일 수 있고, 레이저 용접부와 같이 측정점이 매우 작은 경우에도 정확한 품질 측정이 가능한 효과가 있다.</p>
申请公布号 KR19980011637(U) 申请公布日期 1998.05.25
申请号 KR19960025157U 申请日期 1996.08.21
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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