发明名称 | 用于测试数字视频设备成品状态下DSPIC的测试装置及方法 | ||
摘要 | 一种用于测试数字视频设备成品状态下多个数字信号处理器集成电路的测试设备,包括:对由数字信号产生测试信号的测试信号发生器的信号进行处理以及在对测试进行控制时输出进行了处理的数字信号的多个数字信号处理器集成电路(DSP IC),该测试信号发生器设置在多个DSP IC内的前端处;以及监视正在被测试的DSP IC的输出的监视器,该设备能够简单地检查在各个DSP IC的连接状态下各个IC的操作状态以及在制造数字视频设备的成品时PCB的生产和装配状态。 | ||
申请公布号 | CN1181683A | 申请公布日期 | 1998.05.13 |
申请号 | CN97111513.3 | 申请日期 | 1997.05.09 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金炳辰 |
分类号 | H04N17/00 | 主分类号 | H04N17/00 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 孙履平 |
主权项 | 1.一种用于测试数字视频设备成品状态下多个数字信号处理器集成电路的测试设备,包括:多个数字信号处理器集成电路DSP IC,用于对由数字信号产生测试信号的测试信号发生器的信号进行处理以及在对测试进行控制时输出进行了处理的数字信号,该测试信号发生器设置在多个DSP IC内的前端处;监视器,用于监视正在被测试的DSP IC的输出。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |