发明名称 热控涂层材料的“原位”测试方法
摘要 一种涉及航天器用热控材料的“原位”测试方法,属于热控材料真空—紫外辐照测试方法领域。“原位”测试的含义是在地面模拟宇宙空间环境的真空—紫外辐照后不将试样取出而直接进行光性太阳吸收比测定。本发明提供的方法包括被测试样真空玻璃封管的制作,用真空封管进行真空—紫外辐照以及在积分球仪上进行不同辐照强度下光性太阳吸收比的测定。本发明允许多只样品同时进行辐照试验,辐照强度易于调节并无样品间交叉污染。
申请公布号 CN1180838A 申请公布日期 1998.05.06
申请号 CN97106734.1 申请日期 1997.11.20
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 奚益明;陈杰锋
分类号 G01N21/31 主分类号 G01N21/31
代理机构 上海华东专利事务所 代理人 潘振
主权项 1.一种用于航天器热控材料的“原位”测试方法,包括真空—紫外辐照、 光性太阳吸收比测定,其特征在于: a.被测试样装入端面为石英玻璃窗口的玻璃管中,它由石英窗口(1)、被 测试样(2),普通弹簧(3),直径为20~60毫米的玻璃管(4),装有吸气剂的玻 璃排气管(5)以及电离计管(6)组成,整个玻璃管接入由机械泵和涡轮分子泵 组成的无油真空系统进行排气烘烤排气。烘烤温度350~450℃,时间为24~ 48小时。排气结束时,系统压力达到10<sup>-3</sup>帕以下。将样品管与系统封离。 b.将装有被测试样的真空封管置于紫外辐照试验台上,使样品垂直指向紫 外光源,调节样品与紫外光源的距离及辐照时间,可以改变辐照强度。整个 辐照过程靠钡钛吸气剂蒸发,使管内压力维持在10<sup>-2</sup>~10<sup>-3</sup>帕以下。
地址 200050上海市定西路1295号
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