| 摘要 |
<p>본 고안은 탐침의 간극이 인접된 패턴의 폭에 따라 조절될 수 있도록 구성된 패턴 단락검사장치에 관한 것으로서, 케이스의 내부에 마련된 전원, 전원의 일측전극과 전기적으로 접속되고 케이스의 외부로 그 일부가 돌출된 제1탐침, 전원의 타측전극과 전기적으로 접속되고 케이스의 외부로 그 일부가 돌출된 제2탐침, 제1탐침과 상기 제2탐침의 간극을 조정하는 간극 조정수단;을 구비함으로써, 동일간격으로 동박 패턴이 형성된 회로기판에서의 단락검사가 보다 용이하게 수행된다.</p> |
