| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten, die eine Anzahl von Leiterplattentestpunkten aufweisen. Die Prüfvorrichtung ist mit einer Auswerteelektronik versehen, die eine Anzahl von Testanschlüssen aufweist, wobei jeder Leiterplattentestpunkt der zu testenden Leiterplatte mit einem Testanschluß über eine elektrische Verbindung in Kontakt steht. Zumindest zwei der elektrischen Verbindungen sind elektrisch verbunden so daß zumindest zwei Leiterplattentestpunkte der zu testenden Leiterplatte mit einem einzigen Testanschluß in Verbindung stehen. <IMAGE></p> |
