摘要 |
<P>La présente invention concerne un procédé de suivi et de surveillance du fonctionnement d'une unité de fabrication d'un produit et/ou d'un spectromètre proche infrarouge alimenté par ledit produit.<BR/>Ce procédé consiste, à calculer au moins un indicateur de bon fonctionnement de l'unité de fabrication et/ou du spectromètre proche infrarouge, au moyen d'une expression mathématique combinant les valeurs de spectres de travail et celles de spectres recomposés correspondants et à suivre l'évolution de ces indicateurs. Ces spectres étant obtenus par transformations de spectres issus du spectromètre et enregistrés périodiquement.<BR/>Elle trouve son application dans les industries chimiques, pétrolières, pharmaceutiques, cosmétologiques et agro-alimentaires.</P>
|