| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10106286(A) |
申请公布日期 |
1998.04.24 |
| 申请号 |
JP19960251738 |
申请日期 |
1996.09.24 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
KOBASHI TOSHIO;TSUKIKAWA YASUHIKO |
| 分类号 |
G11C11/401;G11C5/14;G11C11/4074;G11C11/4094;G11C29/00;G11C29/24;G11C29/34;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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