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发明名称 IC testing device
摘要
申请公布号 GB2318187(A) 申请公布日期 1998.04.15
申请号 GB19970020754 申请日期 1997.10.01
申请人 * ADVANTEST CORPORATION 发明人 NORIAKI * SHIMASAKI
分类号 G01R31/28;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/319 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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