TEST APPARATUS OF PROBE CARD,申请号KR19940025280U-传众专利搜索

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发明名称	TEST APPARATUS OF PROBE CARD
摘要
申请公布号	KR0115035(Y1)	申请公布日期	1998.04.15
申请号	KR19940025280U	申请日期	1994.09.29
申请人	LG SEMICONDUCTOR CO.,LTD	发明人	KIM, SANG-CHOL
分类号	H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
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