探针型检测仪，使用这种检测仪的IC检测方法以及IC

摘要

一种探针型检测仪和采用这种检测仪检测IC的方法，其中在对IC作最后的电特性测试时，在引线与向导电棒之间不会产生接触不良，引线间也不会发生短路。该探针型检测仪包括一个测量组件，用于进行IC的电特性测试；一个操作板，以可互换方式与测量组件电连接，以便根据被测IC的类型选择操作板的类型；一个探卡，其上具有与操作板连接的探针；一个压制机构，以使探针线性部分的端部可顶压在靠近IC封装上的从IC封装中伸出的引线上。

主权项

1、一种探针型检测仪，包括：一个测量组件，其包括一个测量IC电特性的电路；一个操作板，以可拆换的方式与所述测量电路电连接，从而可以根据所测IC的类型来选择操作板的类型；一个探卡，其上设置有一个探针，该探针由一个线性部分、一个弯曲部分和一个从弯曲部分延续出来的横梁部分组成；和一个压制机构，其用于使探针的线性部分的端部顶压在从靠近IC封装体的由IC封装上伸出的引线上。