| 发明名称 |
Method and apparatus for the quantitative measurement of the corrosivity effect of residues present on the surface of electronic circuit assemblies |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB9802896(D0) |
申请公布日期 |
1998.04.08 |
| 申请号 |
GB19980002896 |
申请日期 |
1998.02.12 |
| 申请人 |
CONTAMINATION STUDIES LABORATORIES, INC |
发明人 |
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| 分类号 |
G01N1/34;G01N1/40;H01L21/66;H05K3/26 |
主分类号 |
G01N1/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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