| 主权项 |
1.一种LCD基板检查装置,系藉扫描定时产生部(39)之画素显示模式选择式驱动被检查LCD基板(10)之各画素之TFT(14ij),而以取样保持电路(34)对从上述LCD基板(10)之视频端子(23)输出之信号取样,以放大器(35)放大上述取样保持电路(34)之输出信号,以A/D变换器(36)进行A/D变换,在画像处理部(37)检出画素缺陷之检查装置,其特征在于,备有:依上述扫描定时产生器(39)之信号,向IV变换电路(43)输出H电压或L电压之驱动器(40),以及,将上述驱动器(40)之H电压或L电压供给LCD基板(10)之视频端子(23),将视频端子(23)之影像信号加以电流电压变换,而将其输出信号输出到取样保持电路(34)之IV变换电路(43)。2.一种LCD基板检查装置,其特征在于,申请专利范围第1项所述之驱动器(40)系由能够切换H电压或L电压而输出之运算放大器(41)所构成。3.一种LCD基板检查装置,其特征在于,申请专利范围第1或第2项所述之IV变换电路(43)使用至少两个差动放大器,均以驱动器(40)之H电压或L电压当作基准电压,经由电阻输入到正相输入端子,前级之差动放大器(44)系反相输入端子连接在LCD基板(10)之视频端子(23),同时介由电阻接在输出端子之反相放大器,第2级之差动放大器(45)系由反相输入端子分别经由电阻连接在前级之差动放大器(44)之输出端子与自己之输出端子之差动放大器所构成。4.如申请专利范围第1.2或3项所述之LCD基板检查装置,其特征在于,LCD基板(10)之视频端子(23)为复数时,在各视频端子(23)设有个别之IV变换电路(43),而将个别之IV变换电路(43)之输出信号以类比多工器(47)选择而输出到取样保持电路(34)。5.一种LCD基板检查方法,系藉扫描定时产生部之画像显示模式,选择性驱动被检查LCD基板(10)之各画素之TFT(14ij),以上述LCD基板(10)之视频端子(23)之输出信号检出画素缺陷之检查方法,其特征在于:将上述LCD基板之补助电容器(15ij)之共同接地端子接地(步骤100),将上述驱动器之高位准之H电压施加在上述视频端子(23)(步骤110),打开TFT(14ij)之闸极,将上述补助电容器(15ij)充电(步骤120),再关闭上述TFT(14ij)之闸极(步骤130),在上述视频端子(23)施加接地电位之L电压,使杂散电容之电荷放电(步骤140),使成画像显示模式,而以IV变换电路将上述补助电容器(15ij)之资讯变换成电流电压而读出(步骤150),在取样保持电路对上述IV变换电路之输出电压取样(步骤160),再将上述取样保持之电压以A/D变换器加以A/D变换(步骤170),而在画像处理部比较波幅値,以判定良否(步骤180)。图示简单说明:第一图系本发明一实施例之架构图;第二图系第一图所亦实施例之定时图;第三图系LCD基板之架构图;第四图系在LCD基板之一个画素呈ON状态时之等效电路图;第五图系传统之检查装置之架构例子之图;第六图系表示本发明之LCD基板检查方法之流程图。 |
