发明名称 |
Device for calibrating a network analyser for on-wafer measurement of an integrated microwave circuit |
摘要 |
<p>Bei einer Anordnung zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators für die On-Wafer-Messung an Mikrowellenschaltungen auf einer metallischen Grundplatte einer Wafer-Meßeinrichtung mittels in koplanarer Leitungstechnik auf einem Kalibriersubstrat ausgebildeten Kalibrierstandards ist das Kalibriersubstrat im Abstand oberhalb der metallischen Grundplatte angeordnet.</p> |
申请公布号 |
EP0833167(A2) |
申请公布日期 |
1998.04.01 |
申请号 |
EP19970116780 |
申请日期 |
1997.09.24 |
申请人 |
ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK GMBH & CO.;KARL SUSS DRESDEN GMBH |
发明人 |
HEUERMANN, HOLGER, DR. ING. |
分类号 |
G01R27/32;G01R35/00;(IPC1-7):G01R35/00 |
主分类号 |
G01R27/32 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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