发明名称 Device for calibrating a network analyser for on-wafer measurement of an integrated microwave circuit
摘要 <p>Bei einer Anordnung zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators für die On-Wafer-Messung an Mikrowellenschaltungen auf einer metallischen Grundplatte einer Wafer-Meßeinrichtung mittels in koplanarer Leitungstechnik auf einem Kalibriersubstrat ausgebildeten Kalibrierstandards ist das Kalibriersubstrat im Abstand oberhalb der metallischen Grundplatte angeordnet.</p>
申请公布号 EP0833167(A2) 申请公布日期 1998.04.01
申请号 EP19970116780 申请日期 1997.09.24
申请人 ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK GMBH & CO.;KARL SUSS DRESDEN GMBH 发明人 HEUERMANN, HOLGER, DR. ING.
分类号 G01R27/32;G01R35/00;(IPC1-7):G01R35/00 主分类号 G01R27/32
代理机构 代理人
主权项
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