| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE WITH SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT TO BE TESTED, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT AND READOUT CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR AND READOUT CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1083695(A) |
申请公布日期 |
1998.03.31 |
| 申请号 |
JP19960235270 |
申请日期 |
1996.09.05 |
| 申请人 |
OKI ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
TANABE TETSUYA;TANOI SATOSHI;TOKUNAGA YASUHIRO |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F12/16;G11C11/401;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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