RESIDUAL QUANTITY MONITORING DEVICE, RESIDUAL QUANTITY MONITORING SYSTEM, AND RESIDUAL QUANTITY MONITORING METHOD,申请号JP19960239085-传众专利搜索

发明名称	RESIDUAL QUANTITY MONITORING DEVICE, RESIDUAL QUANTITY MONITORING SYSTEM, AND RESIDUAL QUANTITY MONITORING METHOD
摘要
申请公布号	JPH1082681(A)	申请公布日期	1998.03.31
申请号	JP19960239085	申请日期	1996.09.10
申请人	OMRON CORP	发明人	DOSHITA YOSHIO;YOSHIDA MASAHARU;MIURA KENICHI;KUDOME TORU
分类号	G01F23/00;G01F23/24;(IPC1-7):G01F23/00	主分类号	G01F23/00
代理机构		代理人
主权项
地址