| 发明名称 |
TESTING DEVICE USING SELF-TESTING DEVICE INTEGRATED WITH ARBITRARY SUBARRAY OF MEMORY DEVICE AND METHOD THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1083699(A) |
申请公布日期 |
1998.03.31 |
| 申请号 |
JP19970111125 |
申请日期 |
1997.04.28 |
| 申请人 |
TEXAS INSTR INC <TI> |
发明人 |
THEO J PAUEL;KUON FUA HII;DANNY R CLINE;WAR KITT LOW |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/20;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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