| 主权项 |
1.一种测量厚度之方法系藉由一高敏度之角度测量元件的设置机构,配合一运算单元的连接,将所要量测物件的厚度计算出来;其中此高敏度之角度测量元件的设置机构中尚包括有一测量平台与一组卷轮;藉由此测量平台放置该欲量测的物件,并藉由该组卷轮卷动该欲量测的物件;且该高敏度的角度测量元件上设置有一侦测头,此侦测头的长度系为一基准长度;此角度测量元件对欲量测厚度的物件作侦测,随该卷轮卷动物件作移动,所得之角度亦随之作变化,传送该不停变化的角度结果至该运算单元,此运算单元执行角度的计算;其中当未置入任何欲量测之物件时系为归零,该角度测量元件系得一初始角度;之后,进行侦测物件厚度的角度系为一量测角度,此量测角度传输至该运算单元,此运算单元藉由初始角度的余弦结果减去该量测角度的余弦结果后,乘上该角度测量元件上进行量测之侦测头长度,得到该欲量测物件的厚度。2.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件系为一感应机构上设置有一侦测头,此侦测头随物件的移动带动该角度测量元件作转动;此角度测量元件藉由该侦测头进行该欲量测物件的厚度量测,作角度的变化,并将该变化的角度结果传输至该运算单元。3.如申请专利范围第2项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件系为一角度感应机构,并可藉由外部控制,作归零的调整;且所连接之该侦测头随放置之欲量测厚度物件作上下的振动,并带动、传送该振动幅度予该角度测量元件。4.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件不限定一个,藉由一连接板的设置连接复数个角度测量元件,执行侦测的工作。5.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该测量平台系配合该角度测量元件的设置,放置所要量测的物件之平台,在未置入任何物件时,该角度测量元件上之该侦测头与该测量平台接触系为归零。6.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该组卷轮系设置于该平台之一侧,且此组卷轮系为一可作上下伸缩之机构,藉由该组卷轮的设置,卷动该欲量测的物件。7.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该欲量测厚度的物件系藉由该角度测量元件作量测后,得到结果角度后传输该结果角度至运算单元,该运算单元藉由此结果角度配合初始角度作余弦处理,经过相减后呈上侦测头的长度,得到物件厚度结果,藉由输出至一显示单元,显示出该物件厚度结果。8.如申请专利范围第1项所述之一种测量厚度之方法中,该欲量测厚度的量测物件更包括有于上下各设置有上角度测量元件与下角度测量元件,并藉由所连接的上侦测头与下侦测头与量测物件的接触,配合角度余弦运算的处理,得到量测物件的实际厚度。9.一种测量厚度之方法系藉由复数个角度测量元件对所要测量的物件作侦测,其中对所欲量测厚度的物件之测量方法系藉由下列步骤:a.开始,启动整体系统装置,包括有角度测量元件、测量平台、运算单元、与一组卷轮所联合设置之机构;b.归零,该角度测量元件系设置于该测量平台上适当位置处,且于角度测量元件上设置有侦测头,于开始后,藉由外界控制输入使该角度测量元件处于零位置处;c.侦测,放置一欲测量厚度的物件于测量平台上与角度测量元件之间,藉由该组卷轮的设置,卷该欲测量厚度的物件,经过该角度测量元件上所设置之该侦测头随物件的移动作上下位置的振动,随同带动连接的角度测量元件,侦测出角度的变化;d.运算,该角度测量元件在得到不停变化的角度后,传输该角度至一运算单元,藉由此运算单元作计算得到物件的厚度;其中该运算单元的计算系藉由对所接收的量测角度配合初始角度作余弦处理后,经过相减后再乘上设置于该角度测量元件上之该侦测头长度;e.显示,系就由运算单元上所设置之一显示单元显示出该运算单元处理后的物件厚度结果;f.重设归零,该角度测量元件所得之角度在侦测动作中,持续作侦测变化,未做重设归零的动作,维持侦测的动作;在角度变化重设归零时,则进入结束;g.结束,停止侦测的工作执行;以上为本测量厚度之方法。10.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件系为一角度感测机构,并连接该侦测头,此侦测头系为一长形杆状体,一端连接于该角度测量元件,另一端与测量平台接触。11.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该组卷轮系由两滚筒组成,此两滚筒系为可上下作上下的长形圆状体,并设置于该测量平台的一侧,卷动该欲量测的物件。12.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件系有复数个,藉由一连接板的设置,于同一平面上连接设置有复数个角度测量元件,对一欲测量厚度的物件作一线的厚度量测。13.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该角度测量元件系藉由一连接板的设置,连接一角度测量元件,此角度测量元件之外观系为一长形横杆,且为一角度感应机构,再连接复数个侦测头。14.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该运算单元系为一具有微处理器之处理运算机构,并包括有显示的面板,显示出测量运算后的厚度结果。15.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,该侦测动作中,对所测量的物件系有一定范围;并藉由该运算单元对系统作重设归零的动作。16.如申请专利范围第9项所述之一种测量厚度之方法中,更包括于上下各设置有上角度测量元件与下角度测量元件,并藉由该上角度测量元件与下角度测量元件所分别连接的上侦测头与下侦测头与量测物件的接触,配合角度余弦运算的处理,得到量测物件的厚度。图式简单说明:第一图系为本发明之第一实施例侧面示意图;第二图系为本发明之第一实施例的立体示意图;第三图系为本发明之第二实施例的立体示意图;第四图系为本发明之动作步骤流程图;第五图系为本发明之第三实施例示意图。 |
