| 主权项 |
1.一种频谱分析仪,系使PLL (Phase Locked Loop)相位同步,而作频率扫瞄的频谱分析用扫瞄振荡器,其特征在于:一频率扫瞄控制装置,由与前次之频率扫瞄方向为相逆方向之频率扫瞄控制。2.一种频谱分析仪,系使PLL相位同步,而作频率扫瞄的频谱分析用扫瞄振荡器,其特征在于:一频率扫瞄控制装置,于前次之频率扫瞄后求出前次作频率扫瞄之频率跨距区间的下限频率,及上限频率,与前次扫瞄终了位置之频率差,并从前述频率差较小的频率位置开始扫瞄的频率扫瞄控制。3.如申请专利范围第1项及第2项所记载的频谱分析仪;其中,该频率扫瞄控制装置,其构成含有:一扫瞄判定部,系演算本次之扫瞄下限频率,与前次之扫瞄最终频率之差,并演算本次之扫瞄上限频率与前次之扫瞄最终频率之差,而判定何者为频率差较小者,而决定本次之扫瞄方向;一遮没(空白)产生部,系对应前述该扫瞄方向之遮没时间经过后,开始产生设定时序;一频率演算部,系用以合成前述设定时序及频率扫瞄参数;一合成部,系依据前述频率演算部的输出频率资料,变换为数位资料;一D/A变换部,系依据前述数位资料,作D/A变换部。4.一种扫瞄控制方法,系使PLL相位同步而作频率扫瞄的频谱分析用扫瞄振荡器的扫瞄控制方法,包含以下步骤:设定扫瞄初期値;依据该资料进行扫瞄动作;演算本次之扫瞄下限频率与前次之扫瞄终了频率之差;演算本次之扫瞄上限频率与前次之扫瞄终了频率之差;在上述各演算结果之中,判定频率差为较小之扫瞄方向;算出对应上述扫瞄方向的本次之扫瞄频率参数,与遮没时间;以及,根据该算出结果,进行上述步骤2的扫瞄动作,同时,按照顺序将各步骤反覆进行。图示简单说明:第一图系表示本发明第1实施例的单一频率跨距之反覆扫瞄突起(隆出)波形例。第二图系表示本发明第2实施例的多数频率跨距之反覆扫瞄突起波形例。第三图系表示于4个频率跨距时,本发明扫瞄与习知跨距的比较例。第四图系表示习知的一般性之扫瞄振荡器的频谱分析仪构成例。第五图系表示习知,依扫瞄控制装置之反覆扫瞄突起波形例。第六图系表示依本发明的扫瞄控制装置之构成例。第七图系表示依本发明的扫瞄控制之流程图。 |
