发明名称 SYSTEM GENERATION PARAMETER INSPECTION DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1074142(A) 申请公布日期 1998.03.17
申请号 JP19960229087 申请日期 1996.08.29
申请人 NEC CORP 发明人 NAKAMURA FUTOSHI
分类号 G06F11/30;G06F9/06;G06F15/00;(IPC1-7):G06F9/06 主分类号 G06F11/30
代理机构 代理人
主权项
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