发明名称 | 一种基于线性相位反演的波前测量方法 | ||
摘要 | 一种基于线性相位反演的波前测量方法,根据光源波长、传感器的焦距、成像器件的像素大小等已知参数,定标得到的传感器的远场光强相对变化值与入射波前中各项泽尼克系数相对变化值间对应关系的复原矩阵;传感器使用前先用无像差理想平面光源定标,得到无像差时的远场图像作为定标基准图像;然后对包含待测畸变波前的入射光束进行测量,得到畸变波前条件下的远场图像,与基准图像两者相减得到光强分布的差值并按照事先约定形成一个光强差向量。将复原矩阵与光强差向量相乘得到待测波前畸变中包含的各项泽尼克系数值,从而测量出波前畸变。本发明能量利用率高、计算量小,计算速度快,因而可以应用于自适应光学等实时性要求较高的应用领域。 | ||
申请公布号 | CN1904569A | 申请公布日期 | 2007.01.31 |
申请号 | CN200610089149.7 | 申请日期 | 2006.08.07 |
申请人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明人 | 李新阳;李敏 |
分类号 | G01J9/00(2006.01) | 主分类号 | G01J9/00(2006.01) |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人 | 关玲;成金玉 |
主权项 | 1、一种基于线性相位反演的波前测量方法,其特征在于通过以下步骤实现:(1)事先根据光源波长、传感器的焦距、成像器件的像素大小等已知参数,定标得到的传感器的远场光强相对变化值与入射波前中各项泽尼克系数相对变化值间对应关系的复原矩阵;(2)传感器使用前,先用无像差理想平面光源定标,得到无像差时的远场图像作为定标基准图像,然后对包含待测畸变波前的入射光束进行测量,得到畸变波前条件下的远场图像;(3)将上述得到的远场图像与基准图像两者相减得到光强分布的差值并按照事先约定形成一个光强差向量;(4)将复原矩阵与光强差向量相乘得到待测波前畸变中包含的各项泽尼克系数值,从而测量出波前畸变。 | ||
地址 | 610209四川省成都市双流350信箱 |