发明名称 METHOD TO DETERMINE FUNDAMENTAL AND HARMONIC OSCILLATIONS OF A MEASURED ELECTRICAL QUANTITY
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Bestimmen von Grund- und Oberschwingungen (I'( omega )) einer elektrischen Messgrösse (M), bei dem die Messgrösse (M) mittels einer analogen Signalaufbereitungsschaltung (15) aufbereitet wird, die aufbereitete Messgrösse abgetastet und einer Analog-Digital-Umsetzung mit nachfolgender diskreter Fourier-Transformation (DFT) unterzogen wird. Um die Grund- und Oberschwingungen (I'( omega )) der elektrischen Messgrösse (M) trotz Verwendung einer relativ minder qualitativen Signalaufbereitungsschaltung (15) sehr genau bestimmen zu können, wird einem Speicher (18) ein den Frequenzgang der Signalaufbereitungsschaltung (15) nach Betrag und Phase kennzeichnender Korrekturfaktor (k( omega )) entnommen. Die nach der Fourier-Transformation vorliegenden Betrags- und Phasenlagemesswerte (I( omega )) der Grund- und Oberschwingungen werden mit dem Korrekturfaktor (k( omega )) korrigiert.
申请公布号 WO9810304(A1) 申请公布日期 1998.03.12
申请号 WO1997DE01971 申请日期 1997.09.04
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;SEZI, TEVFIK;RECK, THOMAS 发明人 SEZI, TEVFIK;RECK, THOMAS
分类号 G01R23/16;(IPC1-7):G01R35/00 主分类号 G01R23/16
代理机构 代理人
主权项
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